DUALSCOPE® FMP40

自動(dòng)識(shí)別基材，將兩種丈量法相結(jié)合（磁感應(yīng)/電渦流，契合DIN EN ISO 2178, ASTM D7091 和 DIN EN ISO 2360規(guī)范），此通用型設(shè)備不只能夠?qū)︿撹F上的多種涂層進(jìn)行丈量還能夠?qū)Ψ氰F金屬和非導(dǎo)電基材上的涂層進(jìn)行丈量。

特色

依據(jù)磁感應(yīng)法和/或電渦流法對(duì)涂層進(jìn)行非破壞性測(cè)量LI>

自動(dòng)識(shí)別基材（FMP40）

可存儲(chǔ)高達(dá)20,000個(gè)數(shù)據(jù)

可樹(shù)立多達(dá)100個(gè)應(yīng)用程式

數(shù)據(jù)可存儲(chǔ) 4000個(gè)數(shù)據(jù)組

以帶有高斯曲線的直方圖圖形化地體現(xiàn)丈量成果

能夠輸入進(jìn)程公役 并核算相應(yīng)的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk

當(dāng)超出公役 時(shí)，有聲響和視覺(jué)警告信號(hào)

供給的電腦軟件FISCHER DataCenter 具有以下功用：傳輸和保留丈量值，全部的核算和圖形化評(píng)價(jià)，簡(jiǎn)潔生成并打印個(gè)人檢查陳述

典型應(yīng)用領(lǐng)域

汽車工業(yè)

涂料制作與加工

實(shí)驗(yàn)室

檢查組織

航空工業(yè)

技術(shù)參數(shù)：

涂層測(cè)厚儀FMP40-可配探頭：

FD10：兩用探頭 磁感應(yīng)和渦流兩用

測(cè)量規(guī)模：磁性：0-1300 μm，渦流，0-800 μm

FGA1.3：磁感應(yīng)探頭 常用于高精度、薄涂鍍層測(cè)量

測(cè)量規(guī)模：0-1500μm

測(cè)量精度：0.25μm（0-50μm）

0.5（50-1000μm）

＜2.5（1000-1500μm）

*小可測(cè)直徑：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф14mm以上即為測(cè)量精度

*小可測(cè)面積：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф8mm以上即為測(cè)量精度

*薄可測(cè)基材：0.2mm（差錯(cuò)＜10）

FGAB1.3：磁感應(yīng)探頭 常規(guī)丈量、高精度、高讀數(shù)穩(wěn)定性

測(cè)量規(guī)模：0-2000μm

測(cè)量精度：0.5μm（0-100μm）

0.5（100-1000μm）

＜3（1000-2000μm）

*小可測(cè)直徑：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф18mm以上即為測(cè)量精度

*小可測(cè)面積：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф8mm以上即為測(cè)量精度

*薄可測(cè)基材：0.2mm（差錯(cuò)＜10）

FGABI 1.3-150 磁感應(yīng)探頭 長(zhǎng)臂探頭，

*小測(cè)ф9mm孔壁涂鍍層

測(cè)量規(guī)模：0-1000 μm

測(cè)量精度：0.5 μm（0-50 μm）

1（50-1000μm）

*小可測(cè)直徑：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф16mm以上即為測(cè)量精度

*小可測(cè)面積：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；ф8mm以上即為測(cè)量精度

*薄可測(cè)基材：0.2mm（差錯(cuò)＜10）

FTA3.3H 渦流探頭

測(cè)量規(guī)模：0-1200 μm

測(cè)量精度：0.25 μm（0-50 μm）

0.5（50-800 μm）

＜2（800-1200 μm）

*小可測(cè)直徑：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度

*小可測(cè)面積：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度

*薄可測(cè)基材：0.09mm（差錯(cuò)＜10）

FTA3.3 渦流探頭

測(cè)量規(guī)模：0-1200 μm

測(cè)量精度：0.5 μm（0-100 μm）

0.5（100-800 μm）

＜3（800-1200 μm）

*小可測(cè)直徑：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；當(dāng)ф50mm以上即為測(cè)量精度

*小可測(cè)面積：ф2mm（差錯(cuò)＜10）；當(dāng)ф4mm以上即為測(cè)量精度

*薄可測(cè)基材：0.09mm（差錯(cuò)＜10）